等离子体破裂期间电流猝灭特征研究

• 作者: 李强 涂朴 竹锦霞
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 等离子体破裂 电流猝灭时间 电流猝灭率 托卡马克
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 等离子体及原子分子碰撞过程
• 页码范围: 227-230
• 页数: 4页
• 分类号: O53
• 字数: 1965字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2020.02.011

摘要

等离子体破裂会对托卡马克装置的安全运行造成严重威胁.等离子体破裂期间电流猝灭速率与电磁负载的大小及逃逸电流平台的形成都密切相关.本文对HL-2A装置等离子体破裂进行了统计分析,统计选用等离子电流的两个衰减区间90％-10％和80％-20％.分析结果表明:HL-2A装置等离子体破裂有四种不同的电流猝灭波形,两个衰减区间最小电流猝灭时间的参数区分别为2.6 ms和2.2 ms,并且不同衰减区间下平均电流猝灭时间统计分布明显不同.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	竹锦霞	四川文理学院智能制造学院	26	24	3.0	4.0
2	涂朴	四川文理学院智能制造学院	27	32	3.0	3.0
3	李强	四川文理学院智能制造学院	12	11	2.0	3.0