麻醉过深是否与术后远期病死率有关

• 作者: 岳云
• 来源期刊: 首都医科大学学报
• 学科: 医学
• 关键词: 麻醉深度 远期病死率 脑电双频谱指数
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 麻醉学专题
• 页码范围: 669-672
• 页数: 4页
• 分类号: R61
• 字数: 3867字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7795.2013.05.007

摘要

近来研究显示术后病死率与累计低脑电双频谱指数值(bispectral index,BIS)麻醉持续时间有关.2005年,Monk等人首先指出累计深睡眠持续时间(累计低BIS值持续时间)是进行非心脏大手术术后1年病死率的独立预测因子.此后一些关于BIS监测预防术中知晓的临床研究,根据随访和对资料的二次分析,也证实病死率与深睡眠存在相关性.在这些数据追加分析中,Lindholm等人发现BIS值小于45的累计时间与术后2年病死风险增加有关.在B-Aware研究,研究者对远期病死率的二次分析认为,非低BIS组的病死率及发病率(心肌梗死及中风)与低BIS组相比明显降低.Kertai等人的B-Unware数据追加分析同样证实了累计低BIS持续时间与术后病死率相关.在这项研究中,17.8%的患者在进行心脏手术后3年内死亡,术中BIS值低于45的持续时间每增加1 h死亡风险增加29%.此外,Watson等人又发现重症加强护理病房患者在使用镇静剂后,经历暴发性抑制的患者与没有经历暴发性抑制的患者相比6个月病死率明显升高(59% vs 33%).认识到深睡眠与病死率之间存在一定相关性,需要我们深入研究这一问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	岳云	首都医科大学附属北京朝阳医院麻醉科	288	2267	24.0	33.0