面向综合诊断的电子装备测试资源优化分配

• 作者: 刘利民 杜敏杰 蔡金燕
• 来源期刊: 电光与控制
• 学科: 工学
• 关键词: 电子装备 综合诊断 测试性 测试资源分配 机内测试设备 自动测试设备
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 74-76,88
• 页数: 4页
• 分类号: V271.4|TP26
• 字数: 3444字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-637X.2013.01.017

摘要

针对综合诊断思想对电子装备测试资源分配的新要求,在测试点优化的基础上,建立了装备BITE与ATE优化分配的模型.该模型以测试代价最小为优化目标,以故障检测率、故障隔离率及虚警率为约束条件并通过LINGO求解.结果表明,该方法在满足测试性指标的同时降低了测试代价,对装备分层次设计和诊断、提高保障效率、减少寿命周期费用,具有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡金燕	军械工程学院光学与电子工程系	144	811	13.0	18.0
2	刘利民	军械工程学院光学与电子工程系	19	50	4.0	6.0
3	杜敏杰	军械工程学院光学与电子工程系	14	35	3.0	5.0