介观样品低温热电效应的测量方法

• 作者: 吴孝松 郭帅
• 来源期刊: 低温物理学报
• 关键词: 介观体系 热电势测量 拓扑绝缘体 Bi2Se3 低温
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 327-332
• 页数: 6页
• 语种: 中文

摘要

近年来,纳米科学技术研究得到了广泛的重视.随着越来越多纳米材料的发现,人们需要能用在纳米尺度的新技术来了解材料的特殊性质.本文,我们介绍了一种测量介观样品热电效应的方法.通过标准光刻过程,我们制作了由一个微型加热器和两个温度计组成的介观结构.这个结构可以建立一个温场,并能测量出样品两端的温差.通过采用2ω方法,我们可以准确地测量出几个mK的温差和相应的热电响应.本文采用此方法测量了300K到10K温度范围内拓扑绝缘体的热电效应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭帅		7	2	1.0	1.0
2	吴孝松		3	2	1.0	1.0