耐电痕化指数试验设备的确认方法及影响因素分析

• 作者: 潘孝俊 郭艳萍
• 来源期刊: 家电科技
• 关键词: 耐电痕化指数 设备确认 影响因素 CTL决议
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 检测
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 字数: 3752字
• 语种: 中文

摘要

本文结合标准和CTL决议的要求,分析了耐电痕化指数试验设备的技术要求,讨论了试验设备的确认方法,最后总结了耐电痕化指数试验的主要影响因素和试验注意事项.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭艳萍		32	92	4.0	9.0
2	潘孝俊		4	3	1.0	1.0