线阵探头相控阵超声检测

• 作者: 徐滨士 潘亮 王玉江 董世运
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 相控阵超声 深度聚焦 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 6-9
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

基于相控阵对声束的控制原理,采用模拟软件CIVA对聚焦声场进行仿真.通过改变探头单组激发晶片数目、频率和聚焦深度,分析三者之间的关系;结合人工缺陷的实际检测结果,探讨聚焦与不聚焦检测的实施方法.试验表明,采用相控阵超声进行聚焦检测时存在焦点与最大声压位置的重合区和分离区,且最佳聚焦区域在近场区范围以内;不聚焦检测时应该根据缺陷的埋藏深度设置合理的单组激发晶片数目,以获得较好的检测效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐滨士		32	124	4.0	11.0
2	潘亮		2	0	0.0	0.0
3	董世运		9	0	0.0	0.0
4	王玉江		5	0	0.0	0.0