圆形阵列法在能谱测量中的应用

• 作者: 张卓 戴曼 章林文 陈楠 高峰
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 高能X射线 能谱测量 圆形阵列法 蒙特卡罗模拟
• 年，卷（期）: 2013,（11）
• 所属期刊栏目: 加速器技术
• 页码范围: 2995-2998
• 页数: 4页
• 分类号: TL53
• 字数: 3482字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20132511.2995

摘要

在高能闪光照相技术中,高能X射线的能谱测量一直是一个难点.在以往研究方法的基础上,指出控制散射的影响程度是提高能谱测量精度的关键.提出采用圆形阵列法对X射线能谱进行测量,并针对一特定能谱的X射线设计了测量装置,蒙特卡罗模拟结果表明,可以将散射的影响控制在4％以内,这对提高能谱测量精度具有十分重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈楠	中国工程物理研究院流体物理研究所中国工程物理研究院脉冲功率科学与技术重点实验室	30	119	5.0	10.0
2	高峰	中国工程物理研究院流体物理研究所中国工程物理研究院脉冲功率科学与技术重点实验室	27	126	6.0	10.0
3	戴曼	中国工程物理研究院流体物理研究所中国工程物理研究院脉冲功率科学与技术重点实验室	8	2	1.0	1.0
4	张卓	中国工程物理研究院流体物理研究所中国工程物理研究院脉冲功率科学与技术重点实验室	14	62	4.0	7.0