基于中间件的故障注入技术在嵌入式软件逻辑覆盖测试中的应用

• 作者: 刘永恒 蒋沛航 陈锃基
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 中间件 故障注入 软件测试 逻辑覆盖测试
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 所属期刊栏目: 实验室特写
• 页码范围: 70-73
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.53
• 语种: 中文

摘要

以使用中间件故障注入增加软件测试覆盖率为目的,对故障注入技术和原理进行了介绍；并通过实际工程例子提出了一种基于中间件故障注入技术的应用,同时比较了采用故障注入技术后的软件逻辑覆盖测试结果与使用常规测试手段进行的覆盖测试结果,为嵌入式软件的逻辑覆盖测试提供了一种便利、有效的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘永恒	工业和信息化部电子第五研究所软件质量工程研究中心	6	9	2.0	2.0
2	蒋沛航	工业和信息化部电子第五研究所软件质量工程研究中心	3	7	1.0	2.0
3	陈锃基	工业和信息化部电子第五研究所软件质量工程研究中心	2	2	1.0	1.0