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高稳高精度晶体振荡器自动测试系统设计
高稳高精度晶体振荡器自动测试系统设计
原文服务方：
电子产品可靠性与环境试验
摘要：
首先提出了高稳高精度晶体振荡器的3个关键参数:稳态相位噪声、频率-温度稳定性、频率老化率,研究了这几个关键参数的基本概念以及测试方法;并结合菜研制单位某型号的高稳高精度晶体振荡器,分析了影响测试准确性的关键因素,提出解决方法;最后设计自动测试系统,并对测试系统进行了分析和探讨.
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文献信息
| 篇名 | 高稳高精度晶体振荡器自动测试系统设计 | ||
| 来源期刊 | 电子产品可靠性与环境试验 | 学科 | |
| 关键词 | 高稳高精度晶体振荡器 测试准确性 自动测试系统 | ||
| 年，卷（期） | 2013,（z1） | 所属期刊栏目 | 计量与测试技术 |
| 研究方向 | 页码范围 | 242-246 | |
| 页数 | 5页 | 分类号 | TN752 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.3969/j.issn.1672-5468.2013.S1.055 | ||
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高稳高精度晶体振荡器
测试准确性
自动测试系统
研究起点
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位：
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-5468
CN：
44-1412/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号：
创刊时间：
1962-01-01
语种：
中文
出版文献量（篇）
2803
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总被引数（次）
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