晶体振荡器频率漂移失效分析

• 作者: 卢晓青 杨洋 蔡良续 路浩天
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 晶体振荡器 频率漂移 密封性 失效分析
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TN752.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2014.03.009

摘要

通过对某型晶体振荡器失效模式进行分析,结合密封性检查、扫描电子显微镜检查和能谱分析等失效分析试验结果,对该晶体振荡器频率漂移的失效机理进行研究.发现器件密封性不良是导致器件失效的根本原因,并对器件密封性工艺的优化提出建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨洋		3	2	1.0	1.0
2	蔡良续		17	52	5.0	6.0
3	路浩天		6	7	1.0	2.0
4	卢晓青		5	7	1.0	2.0