三层平板导体厚度及电导率的涡流检测

• 作者: 任芳芳 雷银照
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 厚度 电导率 多层平板导体 反演 涡流检测
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 50-53
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

为一次性检测出三层不导磁平板导体的各层厚度及各层电导率,利用电磁场理论建立了正问题求解模型,推导了三层不导磁平板导体上方空心圆柱线圈的散射场阻抗表达式,试验验证了该表达式的正确性;建立了反问题求解模型,使用最优化算法计算了反问题的解,根据一组不同激励频率点的线圈散射场阻抗测量值,计算出了三层不导磁平板导体的各层厚度及各层电导率.试验结果表明,反演结果可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷银照		33	438	9.0	20.0
2	任芳芳		1	0	0.0	0.0