干涉粒子成像测量系统可测粒径范围及精度分析

• 作者: 吕且妮 吕通 陈益亮 靳文华
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 测量 干涉粒子成像 精度 粒子尺寸测量 可测粒径范围
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 测量与计量
• 页码范围: 208-214
• 页数: 7页
• 分类号: TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201340.0508006

摘要

基于干涉粒子成像(IPI)测量公式,分析了影响IPI系统中最大和最小可测粒子尺寸以及粒径测量精度的因素.对一给定的CCD、成像透镜、入射光波波长、光束宽度,分析了物距和离焦距离对粒子干涉条纹图大小的影响,进而分析了对粒径测量精度和可测范围的影响.得出了在满足测量范围要求的条件下,尽量采用相对较大的收集角,干涉条纹图尺寸越大,粒径测量误差越小,但必须考虑条纹图重叠,且对条纹间距进行插值得到亚像素精度,给出了对标准粒子测量实验光路系统设计实例和测量结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕且妮		35	536	12.0	23.0
2	陈益亮		3	0	0.0	0.0
3	吕通		2	0	0.0	0.0
4	靳文华		2	4	1.0	2.0