模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计

• 作者: 何怡刚 孙义闯
• 来源期刊: 湖南大学学报（自然科学版）
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 可测性
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 机电工程
• 页码范围: 85-92
• 页数: 8页
• 分类号: TN062
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-2472.2002.01.017

摘要

深刻地阐述了系统的可测性问题,提出了从可测性分析和可测性设计两方面进行研究的观点.针对支路故障诊断法,讨论了可测拓扑条件、可测性分析和可测性设计问题,提出了几个新的必要且几乎充分可测拓扑条件,并依据这些条件给出了可测性分析和可测性设计的一些方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	孙义闯	英国Herrfordshire大学工程与信息科学学院电子通讯与电气工程系	1	20	1.0	1.0