VLSI可测性设计研究

• 作者: 杜俊 赵元富
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 可测性设计 自动测试生成 扫描设计 边界扫描技术 嵌入式自测试 测试外壳 模拟测试总线
• 年，卷（期）: 2004,（10）
• 页码范围: 189-192
• 页数: 4页
• 分类号: TN470.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.10.052

摘要

从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起.文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨了可测性设计的实现方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜俊	航天时代电子公司研究院微电子技术研究部	1	27	1.0	1.0
2	赵元富	航天时代电子公司研究院微电子技术研究部	2	33	2.0	2.0