高速离散余弦变换VLSI实现的可测性设计

• 作者: 朱华贵
• 来源期刊: 科技广场
• 学科: 工学
• 关键词: 离散余弦变换 算法结构变换 可测性设计 内建自测试
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 16-17
• 页数: 2页
• 分类号: TP391.8
• 字数: 1734字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4792.2006.08.006

摘要

本文提出了一种离散余弦变换电路VLSI实现的可测试性设计.它采用基于算法结构变换的并行实现,所用乘法的数量大大减少,降低了硬件面积占用和功率消耗.为提高DCT的可靠性,在本设计中加入可测性设计方法,采用一种新的内建自测试(BIST)技术.实验表明该设计对运算器的内部结构和运算速度影响小,并具有较高的故障覆盖率.本文的方法适用于高可靠性要求下的数字信号处理的VLSI实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱华贵	江西财经大学电子学院	8	20	3.0	4.0