用可测性设计的方法设计PLA

• 作者: 张卓 朱恒静
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可测性设计 内建自测试 可编程逻辑阵列 故障模型 固定故障 桥接故障
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 计算机系统与软件可靠性
• 页码范围: 10-13
• 页数: 4页
• 分类号: TP311
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.01.003

摘要

全面、有效地测试PLA,是保证PLA类产品可靠性的重要手段.在设计的同时就考虑其测试问题,是解决PLA测试问题行之有效的方法.介绍了怎样用可测性设计的方法解决PLA的测试问题,给出了几种具体的实施方案,并对这些方案进行了分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱恒静		1	0	0.0	0.0
2	张卓		1	0	0.0	0.0