SRAM的一种可测性设计

• 作者: 朱小莉 王镇道 陈迪平
• 来源期刊: 湖南大学学报（自然科学版）
• 关键词: 内建自测试 线性反馈移位寄存器 故障覆盖率 本原多项式
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 数理科学
• 页码范围: 22-25
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-2472.2003.06.007

摘要

用ETCO算法对SRAM进行了内建自测试设计.首先说明了设计的原理,进而对电路中所用的各个单元电路进行了设计,主要包括地址计数器、数据计数器和BIST控制器等.设计出的电路可针对具体的故障模型设置相应的测试长度,从而获得预期的故障覆盖率.测试时不需存储正确响应,并可通过一个响应标志位表示检测的结果.可测性部分对电路硬件的开销较小,所设计的电路在工作站上已成功通过仿真,此电路可广泛应用于嵌入式SRAM,以降低电路的测试难度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈迪平	湖南大学应用物理系	56	273	9.0	13.0
2	王镇道	湖南大学应用物理系	40	173	8.0	11.0
3	朱小莉	湖南大学应用物理系	6	16	2.0	4.0