一种基于 ED T的低功耗可测性设计技术研究

• 作者: 张先娆 王小力 陈首智
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: EDT 低功耗可测性设计 WSA 功耗阈值
• 年，卷（期）: 2013,（11）
• 页码范围: 159-164
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了一种基于ED T的低功耗可测性设计技术，并提出该技术在设置功耗阈值时的优化方案．该低功耗可测性设计技术通过对测试图形进行0填充，使电路在测试过程中的WSA得到有效降低，从31．55％优化到了25．12％．通过设置功耗阈值，降低了测试功耗峰值，实验电路的LST最大值从49．76％优化到21．21％，RST 最大值从45．73％优化到25．00％，并使WSA和SET的最大值得到相应优化．理论研究和实验表明，缩短扫描链长度能够有效提高设置功耗阈值时的测试覆盖率．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王小力	西安交通大学电信学院	59	320	11.0	16.0
5	陈首智	西安交通大学电信学院	1	1	1.0	1.0
6	张先娆	西安交通大学电信学院	1	1	1.0	1.0