基于图论模型的模拟电路故障可测性分析

• 作者: 刘本德 胡昌华
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 图论模型 可测性 故障信息量 模拟电路
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 相关技术
• 页码范围: 257-259,247
• 页数: 4页
• 分类号: TN710
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2007.04.080

摘要

利用拓扑结构建立模拟电路故障诊断图论模型,讨论了基于图论模型的模拟电路故障可测性,用香农信息熵对测点上电路故障状态的不确定性进行了定量描述,依据可测节点处提供的故障信息量大小,给出了模拟电路中部分测试节点不可及情况下确定最优故障检测点方法.通过实例验证了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡昌华		11	50	4.0	7.0
2	刘本德		1	4	1.0	1.0