基于节点导纳矩阵的模拟电路故障诊断

• 作者: 李德良 王长龙 黄考利
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 节点导纳矩阵 故障特征提取
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 3935-3937
• 页数: 3页
• 分类号: TP181
• 语种: 中文

摘要

针对模拟电路故障诊断中的容差问题,提出了基于节点导纳矩阵(NAM)的模拟电路故障诊断方法;该方法以NAM为基础,提取被测电路(CUT)的故障特征向量;测试前,用仿真的方法生成被测电路中某一故障对应的故障样本子集,所有类别的故障样本子集构成故障样本集;测试时,测量被测电路的故障特征向量,并根据其与故障样本集中样本的相似性来判断电路发生的故障类型;由于电路的NAM对元件容差不敏感,所以可以很好地克服模拟电路故障诊断中的容差问题;实验结果证明了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄考利		62	484	13.0	18.0
2	李德良		31	88	5.0	7.0
3	王长龙		89	339	10.0	14.0