基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法研究

• 作者: 张耀辉 许军 陈圣俭
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 多故障 结点电压增量
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 138-141,147
• 页数: 5页
• 分类号: TN711
• 语种: 中文

摘要

针对模拟电路多故障诊断中经常可能遇到的可测点不足和测试量受限的问题，提出了基于结点电压增量的模拟电路多故障诊断方法。推导了基于4个测试点电压增量的双故障诊断方程，给出了诊断流程和仿真实例。理论分析和实验结果表明，该方法可用于线性模拟电路的多故障诊断，对硬故障和软故障均有效，在可测点不足和测试量受限的条件下具有优越性，适合大规模线性模拟电路的多故障诊断和测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许军		26	264	7.0	15.0
2	张耀辉		44	439	8.0	19.0
3	陈圣俭		49	228	9.0	12.0