基于故障可诊性与遗传算法的模拟电路测试激励优化方法

• 作者: 姜媛媛 崔江 王友仁 罗慧 赵鹏
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 模拟电路 测试激励 优化设计 故障可诊性 遗传算法
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 算法研究探讨
• 页码范围: 930-934
• 分类号: TP183
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2011.03.039

摘要

测试激励的选择影响电路故障诊断的精度,为克服现有方法不足,提出了一种基于电路可诊性和遗传算法的模拟电路测试激励优化方法.对待测电路进行十倍频程AC Sweep分析来确定正弦测试信号的频率优化范围,基于电路幅频响应中离散频点相应的电压有效值来计算各故障特征数据类内类间离散度,统计多频测试信号敏感度因子大小,并以此为目标函数利用遗传算法实现测试信号中的频率参数优化.以双带通滤波电路为例进行了仿真验证,实验结果表明该方法优化出的测试激励信号能有效降低电路故障响应特征分布模糊性,提高了故障诊断率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵鹏	南京航空航天大学自动化学院	14	117	5.0	10.0
2	王友仁	南京航空航天大学自动化学院	190	2254	25.0	36.0
3	姜媛媛	安徽理工大学电气与信息工程学院	57	320	9.0	16.0
5	崔江	南京航空航天大学自动化学院	71	878	15.0	27.0
8	罗慧	南京航空航天大学自动化学院	15	190	7.0	13.0