基于遗传算法优化的BDD描述的数字电路功能测试

• 作者: 李雁飞 梁泳 梁述海
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 数字电路 遗传算法 功能测试 BDD
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 163-164，167
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2003.03.002

摘要

针对数字电路的测试两大难点,采用二元判决图(BDD) 表示数字电路模型,同时由BDD生成测试矢量来完成数字电路的功能测试.在由VHDL描述完整电路功能的基础上用遗传算法对BDD的规模进行压缩优化.整个系统构成简单,自动化程度高,测试耗时少.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李雁飞	海军工程大学动力工程学院	34	129	7.0	9.0
2	梁述海	海军工程大学动力工程学院	30	242	10.0	14.0
3	梁泳	海军工程大学动力工程学院	1	0	0.0	0.0