基于遗传算法的测试访问机制最优化

• 作者: 冯建华 夏冰
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试访问 嵌入式核 系统芯片 测试访问机制 遗传算法
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 页码范围: 207-210
• 页数: 4页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.06.062

摘要

讨论了使测试访问机制最优化的几个问题,然后试着采用遗传算法来解决这些问题,在两个SoC上用遗传算法进行实验,把实验结果与采用整数线性规划方法(Integer Linear Programming,ILP)的结果进行比较可以发现效果改善的很明显.实验结果说明采用遗传算法对测试访问机制进行最优化处理的效果要好于ILP.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯建华	北京大学微电子系	14	77	5.0	8.0
2	夏冰	北京大学深圳研究生院信息工程学院	1	1	1.0	1.0