利用双压控晶振降低锁相环中的相位噪声

• 作者: 赵晨 钱玮
• 来源期刊: 自动化与仪器仪表
• 学科: 工学
• 关键词: VCXO PLL 相位噪声
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 123-125
• 分类号: TP73
• 字数: 3707字
• 语种: 中文

摘要

锁相环作为现代电子系统中系统的基本构建模块,具有十分重要的作用.进一步提高锁相环的性能,会对整个电子系统性能的提升提供一个保证.利用双压控晶振的设计,可以有效地降低锁相环中的相位噪声,减少噪声对系统的影响,进而提升系统的性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵晨	汉达科技有限公司计量中心	1	0	0.0	0.0
2	钱玮	汉达科技有限公司计量中心	1	0	0.0	0.0