一种用于CMOS图像传感器集成ADC的性能测试系统

• 作者: 徐星 陈世军
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: ADC 直方图 FFT Labview 测试
• 年，卷（期）: 2013,（22）
• 所属期刊栏目: 图像与多媒体
• 页码范围: 191-193
• 页数: 3页
• 分类号: TN792
• 字数: 2401字
• 语种: 中文

摘要

在CMOS图像传感器中,A/D起着“承上启下”的作用,承接前端传来的信号,转换成数字后输出,其性能指标直接影响着整个系统的优劣.随着ADC速度和精度的提高,如何高效、准确地测试其动态和静态参数是ADC测试研究的重点.文中阐述了ADC的参数及其测试的原理和方法,并基于Labview软件和数据采集卡构建了ADC的软硬件测试平台,实现了低成本、高可靠性的高精度ADC计算机辅助测试系统.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐星	中国科学院红外成像材料与器件重点实验室中国科学院上海技术物理研究所	48	241	9.0	14.0
2	陈世军	中国科学院红外成像材料与器件重点实验室中国科学院上海技术物理研究所	20	98	5.0	8.0