数控机床可靠性评估试验设计

• 作者: 杨建国 王智明
• 来源期刊: 计算机集成制造系统
• 学科: 工学
• 关键词: 幂律过程 样本容量 试验时间 数控机床 可靠性评估
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 产品创新开发技术
• 页码范围: 2394-2398
• 页数: 5页
• 分类号: TG659|TB114
• 字数: 3820字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13196/j.cims.2013.10.WANGZhiming.2013102

摘要

以数控机床的累积平均无故障工作时间和可靠度的区间估计精度为要求,应用信息矩阵法,对故障过程可用幂律过程模型描述的数控机床,给出了可靠性评估试验的最小试验截止时间和最小样本容量,解决了数控机床可靠性评估试验中确定试验截止时间和样本容量的难题.计算结果显示,可靠性指标区间估计的上、下区间比和置信度是影响可靠性评估试验中最小试验截止时间和最小样本容量的主要因素.其中,最小样本容量随可靠性指标区间估计精度要求的提高和置信度的增加而显著加大,而最小试验截止时间受两者的影响较小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨建国	上海交通大学机械与动力工程学院	179	3656	33.0	53.0
2	王智明	淮海工学院机械工程学院	33	156	7.0	10.0