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基于RSSI的对数距离路径损耗模型研究
基于RSSI的对数距离路径损耗模型研究
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摘要：
分析基于RSSI的对数距离路径损耗模型，通过对对数距离路径损耗模型进行相应的修正，以提高距离测量模型的准确度。最后对对数距离路径损耗模型及其修正进行了仿真。
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主办单位：
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期：
月刊
ISSN：
1003-0107
CN：
44-1038/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号：
46-39
创刊时间：
1980
语种：
chi
出版文献量（篇）
7058
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15176
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