原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
提出了一种基于指令集结构,并可与硬件设计和测试环境相契合的自动随机测试生成方法ARTG(auto-matic random test program generation).它包含用于构造指令的指令树、动态生成策略、分支跳转指令生成算法、流水线冲突预测算法和一套自动结果检查机制.整个测试程序生成过程具有很高的自动化,验证遇到bug时能够减少调试时间迅速找出bug方位.ARTG已应用于自主研发的IME-Diamond数字信号处理器.实验结果表明,该方法产生的测试代码灵活高效,加速了验证过程,并且复杂度低.
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指令约束
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文献信息
篇名 DS P随机测试程序自动生成技术
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 功能验证 随机测试生成 指令树 动态策略 结果检查
年,卷(期) 2013,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 154-158,164
页数 6页 分类号 TP302
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 叶甜春 中国科学院微电子研究所 200 911 14.0 18.0
2 梁利平 中国科学院微电子研究所 47 126 7.0 9.0
3 罗汉青 中国科学院微电子研究所 5 18 2.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
功能验证
随机测试生成
指令树
动态策略
结果检查
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
论文1v1指导