沉积工艺对光纤阻氢性能的影响

• 作者: 李儒峰 杨建平 禚月平 邓玉满
• 来源期刊: 自动化技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 氢损机理 沉积工艺 PCVD
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 仪器仪表与检测技术
• 页码范围: 65-67,73
• 页数: 4页
• 分类号: TN253
• 字数: 2388字
• 语种: 中文

摘要

稠油热采井的监测一直是油井测试工作的难点,尤其是对注气剖面的测试,有助于了解吸气剖面的信息,确定油藏位置,优化注气质量具有重要的意义,分布式光纤目前是实现注汽井剖面温度监测的唯一办法.在实际测试过程中,井下高温油气条件下光纤氢损现象加剧,使光信号传输衰减增大,将会造成数据失真,影响测试精度,甚至无法测量数据,同时,测试光纤的使用寿命变短.因此需要对光纤阻氢工艺进行优化,本文重点分析氢损的机理,介绍了几种沉积工艺,研究了沉积工艺对对光纤阻氢性能的影响,主要应用了等离子体化学汽相沉积(PCVD),并提出了优化的方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李儒峰		13	243	7.0	13.0
2	杨建平		4	19	2.0	4.0
3	禚月平		2	3	1.0	1.0
4	邓玉满		1	2	1.0	1.0