工业CT图像边缘伪影校正

• 作者: 李丹 王珏 蔡玉芳
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 工业CT 边缘伪影 康普顿散射 串扰 串扰率 探测模块
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 755-761
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 4028字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20132503.0755

摘要

为了去除工业CT图像中的边缘伪影,提高CT图像的识别能力和尺寸测量精度,提出一种降低串扰的系数修正法.首先分析得出边缘伪影主要是由散射射线在相邻探测通道之间的串扰所导致,并给出了探测通道串扰的数学模型；然后根据数学模型设计实验方案,通过对影响串扰率的主要因素进行实验分析,得到串扰率随入射X射线能量和被测物体厚度变化关系,再通过最小二乘拟合得出投影数据关于串扰率的函数；最后利用此函数对投影数据进行校正,降低了串扰的影响.实验结果表明,探测器间一级串扰率约为9.0,二级串扰率约为1.2％,其中一级串扰是造成边缘伪影的主要因素,采用本文方法能够有效地抑制边缘伪影,同时较好地保留了图像细节和边缘.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李丹	重庆大学自动化学院	39	198	9.0	13.0