高速高分辨率ADC有效位测试方法研究

• 作者: 张雁霞 李斌康 李海涛 渠红光 王晶 田晓霞 田耕 阮林波
• 来源期刊: 电子技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: ADC有效位 FFT ADS5400
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 集成电路应用
• 页码范围: 41-43
• 页数: 3页
• 分类号: TM930.1
• 字数: 2365字
• 语种: 中文

摘要

介绍了ADC的有效位计算公式,分析了ADC的性能参数测试方法,给出了ADC的有效位测试解决方案.对FFT方法在ADC性能测试中的应用做了深入探讨,包括频谱泄露、相干采样和加窗函数等.采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行有效位测试,得到其在400 MS/s采样率的有效位ENOB=9.12 bit(fin=1.123 MHz).