E2PROM失效故障分析

• 作者: 刘冰 孙爱中 谢涛
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: E2PROM 失效分析 超差
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 71-73,77
• 页数: 4页
• 分类号: TP343
• 字数: 1799字
• 语种: 中文

摘要

在计算机的使用中,发现E2 PROM芯片出现数据丢失问题,导致计算机无法正常工作.通过对E2 PROM的失效分析,其结果表明,故障的原因是芯片失效所致.经试验验证分析,确定该E2pROM器件存在芯片某流片生产批次工艺参数RRPOLY较差,影响上电复位电路的工作状态,造成部分芯片在上电过程中出现数据丢失问题.另外在E2 PROM筛选中添加了非易失性测试,发现并解决了E2 PROM早期失效问题.验证试验表明该措施的有效性和可行性.