白光频域光学相干层析检测方法

• 作者: 秦玉伟 赵宏
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 光学相干层析成像 噪声 自相关 信噪比
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 高功率激光与光学
• 页码范围: 1921-1924
• 页数: 4页
• 分类号: TH744.3|O439
• 字数: 2116字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20132508.1921

摘要

针对频域光学相干层析系统成像过程中产生的图像噪声,提出了一种干涉光谱解耦的方法.该方法通过消除干涉光谱中的直流项和自相关项,实现对图像去噪.利用白光作为光源,对聚苯乙烯单层薄膜进行成像实验,得到薄膜的一维深度图像以及二维层析图像.由二维层析图像可以清晰的获取薄膜的内部微观结构及表面形貌信息.实验结果表明,该检测方法可有效消除薄膜的图像噪声,提高图像信噪比和对比度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵宏	西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室	71	687	16.0	23.0
2	秦玉伟	西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室	42	95	6.0	7.0