再发射技术测量SGⅡ黑腔靶早期对称性

• 作者: 丁永坤 余波 刘慎业 晏骥 景龙飞 杨家敏 江少恩 苏明 蒋炜 蒲昱东 袁铮 陈伯伦 黄天暄 黎航
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 再发射 早期不对称性 P2分量 Bi替代靶
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 385-388
• 页数: 4页
• 分类号: TN244
• 字数: 2322字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20132502.0385

摘要

利用再发射技术能够有效测量早期辐射驱动对称性.2011年在神光Ⅱ激光装置上,采用Bi替代靶,通过改变靶丸的支撑方式和优化探测器配置,利用分幅相机获得较高信噪比的Bi球表面再发射图像.利用实验结果获得了入射流不对称性P2分量随时间的变化,对比两种腔长的黑腔,P2分量随时间的变化存在明显差别.两种腔P2分量随时间的变化趋势与采用视角因子模拟的结果基本一致.