光学经纬仪在测试中波自立式铁塔垂直度中的应用

• 作者: 赵科奇 雷海
• 来源期刊: 消费电子
• 学科: 工学
• 关键词: J2-2型光学经纬仪 经纬仪测量
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 页码范围: 144-144,146
• 页数: 2页
• 分类号: TH761
• 字数: 850字
• 语种: 中文

摘要

根据 GY/T 178—2001《中、短波天馈线运行维护规程》规定，中波自立式铁塔的垂直度要5年对其测量一次，在我台的垂直度的测量中，我们采用的是J2-2型光学经纬仪，它是一种精密光学测角仪器，此种仪器在国防建设、大地测量和工程测量中占有很重要的地位。本文着重介绍了J2-2型光学经纬仪在中波自立式铁塔垂直度测量的相关应用。