电离层高频斜向探测技术与选频应用

• 作者: 卢华平 李斌 王方超
• 来源期刊: 商情
• 关键词: 高频斜向探测 斜测电离图 选频 优点和局限
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 152
• 页数: 1页
• 语种: 中文

摘要

电离层探测是研究电离层特性和进行短波选频的重要手段之一,随着科学技术发不断发展,人类发明了各种各样的电离层探测方法,而电离层高频斜向探测,就是这众多探测方法中重要的一种.介绍了电离层斜向探测的基本原理、斜测电离图及应用,同时也对这种探测方法的优点和局限性进行了评述.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王方超		5	5	1.0	2.0
2	李斌		5	4	1.0	2.0
3	卢华平		5	2	1.0	1.0