可纠错二元光栅编码方法的研究及设计

• 作者: 刘晴晴 杨剑 杨秋翔
• 来源期刊: 科学技术与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 二元光栅编码 汉明码 相位级次 误码 相位解包裹
• 年，卷（期）: 2013,（33）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 10026-10031
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.11
• 字数: 3510字
• 语种: 中文

摘要

针对相位解包裹中运用二元光栅编码结构光技术计算相位级次时,因受背景光强、噪声、被测物体表面不均匀反射率等因素的影响,导致光栅黑白交界处部分像素点的误码问题,提出了一种可纠错的二元光栅编码方法.从光栅编码方法的角度出发,依据信息论中的纠错码原理,采用汉明线性分组码,通过增加一定数量的校验元编码图案的投影,对二元编码光栅黑白交界处的误码问题进行检测并纠正,并从理论上验证了其设计方案的可行性.仿真实验表明对于只发生一位误码的像素点能予以100％检测并纠正,具有很高的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨秋翔	中北大学电子与计算机科学技术学院	87	377	9.0	13.0
2	杨剑	中北大学电子与计算机科学技术学院	32	228	10.0	13.0
3	刘晴晴	中北大学电子与计算机科学技术学院	2	9	2.0	2.0