低压电器的通断能力和电寿命试验控制系统的设计与实现

• 作者: 蔡燕峰
• 来源期刊: 科技视界
• 关键词: 通断能力试验控制 瞬态记录 PIO-32/32L(PCI)
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 所属期刊栏目: 机械与电子
• 页码范围: 73,95
• 页数: 2页
• 字数: 2253字
• 语种: 中文

摘要

通断能力试验控制系统是根据对低压电器检测的要求,设计开发的一套低压电器试验控制系统.本文重点阐述了通断能力和电寿命试验控制台的线路设计、瞬态记录仪的实际运用和程序控制器的编程设计.具体围绕测量手动和自动合分、抗焊保护和故障报警、程控调压排风和指示计数选相位控制、人工中性点和信号的采集、电寿命陪试品和选相合闸开关的选择等开展的一些设计与实现工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡燕峰	上海大学机电工程与自动化学院	1	0	0.0	0.0