基于LabVIEW的开关电器触头电寿命试验系统的设计

• 作者: 朱文博 杨志伟 熊显名
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: LabVIEW 数据采集卡 电磁继电器 交流接触器 触头电寿命 开关电器
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 133-136,140
• 页数: 5页
• 分类号: TN916.424-34|TM581
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2018.06.032

摘要

传统的开关电器触头电寿命试验设备一般无法对失效原因进行全面、精确的记录,无法进行试验数据的存储和回访.为此,研制一种结合LabVIEW软件和数据采集卡等硬件的试验系统,该系统以实现电磁继电器和接触器的电寿命检测试验,同时在系统软件的控制下,自动对试验过程中失效情况进行判断和记录.该系统测量的电压、电流数据精度约为0.5%,与传统的设备相比,它能更加准确和直观地反映出试品电寿命的相关指标,为触头设计人员提供可靠的判断依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊显名	桂林电子科技大学广西高校光电信息处理重点实验室	99	367	10.0	14.0
2	朱文博	桂林电子科技大学广西高校光电信息处理重点实验室	2	3	1.0	1.0
3	杨志伟		2	3	1.0	1.0