继电器触头的电蚀机理研究

• 作者: 孙秀霞 李海军
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 继电器触头 电蚀 材料转移 喷溅
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: TM58
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.03.008

摘要

由电弧、火花等原因引起的电侵蚀是继电器触头侵蚀的表现形式之一,严重时将造成触点无法工作,继电器失效,从而影响整个电气系统的正常运行.分析了继电器触头电蚀中材料转移和熔融喷溅的机理,总结了电蚀的3种主要影响因素:机械因素、电气因素、材料因素,以及针对这些因素,应采取的相应保护措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙秀霞	空军工程大学工程学院	169	1529	19.0	30.0
2	李海军	空军工程大学工程学院	6	73	4.0	6.0