A系列接触器电寿命检测试验台研发

• 作者: 梁贵宝 王建生 皮小园 艾龙辉
• 来源期刊: 科技致富向导
• 关键词: 接触器 可控硅 工控机 电寿命检测
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 高教论述
• 页码范围: 82,124
• 页数: 2页
• 字数: 1812字
• 语种: 中文

摘要

对于接触器电寿命的检测,传统方案采用陪试品进行电路切换,用单片机技术或PLC技术控制进行数据采集.因此,对于大电流接触器(A750)电寿命检测(AC-3),很难找到合适的陪试品,并且陪试品接通和分断导致电路切换的时间很难控制,测试效率也不高,单片机技术和PLC技术采样频率不高导致得出的数据不够精确.新方案采用可控硅技术进行电路切换,测试效率高,实现了电路切换迅速、精确,IPC高频率的采样使得测试的波形和数据在人机界面清晰准确的显示.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建生		47	166	7.0	11.0
2	梁贵宝		2	2	1.0	1.0
3	皮小园		3	23	2.0	3.0
4	艾龙辉		3	23	2.0	3.0