不同非均匀性校正温度的红外测温技术

• 作者: 刘英 周昊 孙强 张晓龙 王健
• 来源期刊: 中国光学
• 学科: 工学
• 关键词: 非均匀性校正 制冷 中波红外热像仪 红外测温
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 光学仪器与测试
• 页码范围: 150-155
• 页数: 6页
• 分类号: TN219
• 字数: 2370字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CO.20140701.0150

摘要

为使制冷型中波红外热像仪在不同环境温度下经过非均匀性校正后保持较高的测温精度，研究了考虑非均匀性校正温度效应的中波红外热像仪标定模型。利用不同温度的面源黑体对热像仪进行非均匀性校正，然后对黑体目标进行测温实验，获得了不同校正温度下热像灰度与黑体辐射亮度之间的变化关系，建立了目标的测温数学计算模型，最后对测温结果进行误差分析。结果表明：在不同校正温度下，热像灰度相对非均匀校正辐亮度的漂移可做线性化处理，且与目标温度变化无关。在非均匀性较低的测温范围内热像仪的测温误差小于±0.22℃，极大减小了制冷型中波红外热像仪在不同校正温度下非均匀性校正后的测温误差。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙强	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	204	1641	20.0	28.0
2	王健	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	153	1133	18.0	27.0
3	刘英	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	63	645	16.0	23.0
4	周昊	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	10	76	5.0	8.0
8	张晓龙	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	14	96	5.0	9.0