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XRD and XPS Analysis of TiO2 Thin Films Annealed in Different Environments
XRD and XPS Analysis of TiO2 Thin Films Annealed in Different Environments
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摘要：
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文献信息
| 篇名 | XRD and XPS Analysis of TiO2 Thin Films Annealed in Different Environments | ||
| 来源期刊 | 材料科学与工程：中英文B版 | 学科 | 物理学 |
| 关键词 | TIO2薄膜 XPS分析 XRD 环境 退火 X射线光电子能谱 X射线衍射 原子力显微镜 | ||
| 年，卷（期） | 2014,（6） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 163-170 | |
| 页数 | 8页 | 分类号 | O484 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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TIO2薄膜
XPS分析
XRD
环境
退火
X射线光电子能谱
X射线衍射
原子力显微镜
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期刊影响力
材料科学与工程：中英文B版
主办单位：
美国大卫出版公司
出版周期：
双月刊
ISSN：
2161-6221
CN：
开本：
出版地：
武汉洪山区卓刀泉北路金桥花园C座4楼
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
570
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