波长色散X射线荧光光谱法测定钼原矿中多元素

• 作者: 王宝玲
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 化学
• 关键词: 粉末压片 钼原矿 波长色散 X射线荧光光谱法
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 钼化工
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1286字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13384/j.cnki.cmi.1006-2602.2014.03.008

摘要

本文采用粉末压片法制样,建立了测定钼原矿中钼、铅、铜、铁、硫元素的波长色散X射线荧光光谱法.讨论了制样条件,运用基本参数法和基体校正法相结合,用以校正共存元素间的吸收增强效应和谱线重叠影响.精密度试验和比对试验表明,该法分析结果能够满足生产需要.