利用 HPGe γ谱仪快速测量226 Ra

• 作者: 张轶名 於国兵 杜勤 潘灵婧 闻德运 顾先宝
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: HPGe γ谱分析 226 Ra 快速测量
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 页码范围: 1132-1134
• 页数: 3页
• 分类号: TL81
• 字数: 1686字
• 语种: 中文

摘要

HPGeγ谱分析中，一般通过测量222 Rn的子体来确定样品中226 Ra的含量，这种方法需要对样品密封数周后测量，无法实现样品中226 Ra含量的快速测量。文章分析了样品γ谱中186 keV全能峰的计数来源，对使用186 keV全能峰计算出的226 Ra的含量结果进行修正，得到较好的实验结果，实现了用186 keV全能峰快速测量样品中Ra的含量。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张轶名		1	0	0.0	0.0
2	潘灵婧	中国科学技术大学核科学技术学院	2	1	1.0	1.0