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摘要:
Single event latch-up (SEL) is a significant issue for electronics design in space application, which would cause large currents in electronic devices, and may lead to burning out of devices. A new monitoring circuit based on current-comparing method is designed to protect the electronics away from SEL’s damage in radiation environment. The response time of protection circuit has been analyzed. The signal simulation results indicated that the operating time of the SEL protection circuit is dependent on the action time of current comparator and system application recovery time. The function of the monitoring circuit protection device away from SEL’s damage has validated through experiment at last.
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文献信息
篇名 A New Analyzing Method of Single Event Latch-Up Protection Circuit Based on Current Comparing and Its Performance Verification
来源期刊 现代物理(英文) 学科 医学
关键词 SEL Protection Circuit Power-On TIME CUT-OFF TIME ADJUSTABLE RECOVERY TIME COTS
年,卷(期) 2014,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 387-393
页数 7页 分类号 R73
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研究主题发展历程
节点文献
SEL
Protection
Circuit
Power-On
TIME
CUT-OFF
TIME
ADJUSTABLE
RECOVERY
TIME
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研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代物理(英文)
月刊
2153-1196
武汉市江夏区汤逊湖北路38号光谷总部空间
出版文献量(篇)
1826
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