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摘要:
采用有限元分析方法,研究了声子晶体负折射现象与板厚度的关系.通过对比分析声子晶体单板成像系统和串联式声子晶体多板成像系统,结果发现多板系统的像点强度较强,但分辨率却高于单板系统.利用串联式声子晶体多板成像系统可以提高成像质量.
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文献信息
篇名 二维声子晶体负折射成像效应及其分辨率对比
来源期刊 吉首大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 声子晶体 负折射率 成像 分辨率
年,卷(期) 2014,(2) 所属期刊栏目 物理与信息
研究方向 页码范围 48-51
页数 4页 分类号 O481
字数 2502字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-2985.2014.02.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邓科 吉首大学物理与机电工程学院 40 53 3.0 5.0
2 赵鹤平 吉首大学物理与机电工程学院 44 97 5.0 8.0
3 李波 吉首大学物理与机电工程学院 2 0 0.0 0.0
4 关珺珺 吉首大学物理与机电工程学院 3 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
声子晶体
负折射率
成像
分辨率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
吉首大学学报(自然科学版)
双月刊
1007-2985
43-1253/N
大16开
湖南省吉首市
1980
chi
出版文献量(篇)
2943
总下载数(次)
1
总被引数(次)
10461
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