某高压电连接器的失效分析

• 作者: 何志刚 周庆波 梁栋程 王晓敏 龚国虎
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高压电连接器 失效分析 失效机理 X射线检查
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 942-946
• 页数: 5页
• 分类号: TN605
• 字数: 2030字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201406.0942

摘要

针对某型号高压电连接器在电压冲击试验中的失效现象，进行失效分析。分析手段包括 X 射线检查、内部检查和金相分析等。检测发现该元件存在多芯导线压接损伤、剥线损伤等缺陷。根据该高压电连接器的失效模式和各项检测结果，分析得出了其失效机理。最后，在元件设计、工艺控制、质量监控方面提出了改进建议。建议实施后该元件通过了各项检测，质量可靠性得到了提升。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚国虎	中国工程物理研究院计量测试中心	11	24	2.0	4.0
2	王晓敏	中国工程物理研究院计量测试中心	20	40	3.0	5.0
3	梁栋程	中国工程物理研究院计量测试中心	11	8	2.0	2.0
4	何志刚	中国工程物理研究院计量测试中心	11	18	2.0	4.0
5	周庆波	中国工程物理研究院计量测试中心	10	23	2.0	4.0