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摘要:
采用磁控溅射沉积方法在Si基底表面制备U2N3+xOy薄膜,采用X光电子能谱(XPS)分析技术观测CO气氛环境下 U2N3+xOy薄膜表面腐蚀行为,以期获得 U2N3+xOy薄膜在 CO 环境下的表面腐蚀机理。结果表明:超高真空条件下, CO在U2N3+xOy薄膜表面表现为氧化特性;CO在薄膜表面吸附解离生成的C以无定形碳形式聚集在薄膜表面,深度剖析过程中并未观察到C向U2N3+xOy薄膜内部扩散;而解离生成的氧在薄膜内扩散并发生氧化反应,生成高价氧化物或铀氮氧化物和氮。氧化反应生成的氮向薄膜内部扩散,并在次表面反应生成富氮中间产物。随着CO暴露反应进程的推进,富氮层逐渐向薄膜内部迁移,这是导致U4f谱卫星峰变化的主要原因。
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表面反应机理
晶格氧
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 CO在U2N3+xOy薄膜表面反应特性研究
来源期刊 无机材料学报 学科 工学
关键词 CO U2N3+xOy 表面腐蚀 氧化
年,卷(期) 2014,(8) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 875-879
页数 5页 分类号 TQ174
字数 2707字 语种 中文
DOI 10.15541/jim20130641
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘柯钊 13 36 2.0 5.0
2 罗丽珠 11 24 3.0 4.0
3 陆雷 19 54 5.0 6.0
4 赵东海 1 0 0.0 0.0
传播情况
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2014(0)
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研究主题发展历程
节点文献
CO
U2N3+xOy
表面腐蚀
氧化
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
无机材料学报
月刊
1000-324X
31-1363/TQ
16开
上海市定西路1295号
4-504
1986
chi
出版文献量(篇)
4760
总下载数(次)
8
总被引数(次)
61689
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